工作职责:
1. 在bench上进行电失效模式验证；
2. 电性失效定位 (OBIRCH/TIVA/PEM/Thermal) , 找出可能的故障位置；
3. 逐层物理去处理IC芯片，揭示缺陷结构，找出故障原因；
4. 用双束电子显微镜（FIB）和扫描电子显微镜（SEM）来揭示缺陷结构；
5. 用纳米探针（Nanoprober) 以测量电路和器件的特性。
任职资格:
1. 硕士及以上学历，电子类/物理类/化学类/材料类等相关专业；
2. 人品正直，吃苦耐劳；
3. 精力充沛，积极主动；
4. 独立处理能力强，具有团队协作精神；
5.特别优秀者薪资另议。