工作职责:
1. 在bench上进行电失效模式验证;
2. 电性失效定位 (OBIRCH/TIVA/PEM/Thermal) , 找出可能的故障位置;
3. 逐层物理去处理IC芯片,揭示缺陷结构,找出故障原因;
4. 用双束电子显微镜(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)来揭示缺陷结构;
5. 用纳米探针(Nanoprober) 以测量电路和器件的特性。
任职资格:
1. 硕士及以上学历,电子类/物理类/化学类/材料类等相关专业;
2. 人品正直,吃苦耐劳;
3. 精力充沛,积极主动;
4. 独立处理能力强,具有团队协作精神;
5.特别优秀者薪资另议。